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LCR表基本量测原理须知
LCR表基本量测原理须知
在磁性元器件设计的领域里，最常用到的量测仪器便是LCR表。对于其量测页面所显示的许多L/C/R/Q/D/Y/G/B/Z/θ量测结果，可能在许多使用到此类仪器的工程人员脑海中常会浮现出一些问号---电感、阻抗、Q值…是怎么量出来的？一般LCR表测试频率在2MHz内，采用的方式多是四端子自动平衡电桥法。本文以HP4284A为例，以简化的测试回路来呈现四端子Lc-Lp-Hp-Hc测试点所在位置，藉由测试信号源Vosc与待测物(DUT)的端电压Vm的关系引出LCR表里的侦测元件所直接量测的三个参数。再透过这三个参数搭配待测器件的等效串、并联模型，引导出其量测页面所显示的L/C/R/Q/D/Y/G/B/Z是如何在仪表内按相关设定的数学转换公式，而得以间接被计算出来的。
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