导航
技术专栏
走进技术专栏,解锁前沿科技
轻松掌握测试知识,率先成为科技达人
2025/01
10
网络分析仪如何测量阻抗
网络分析仪是一种功能强大的测试设备,它不仅可以用于网络分析,还能测量电子元器件的阻抗。以下是关于网络分析仪测量阻抗的详细介绍:

 

一、阻抗测量的基本原理

阻抗测量是指利用仪器测量电路或器件在特定频率下的阻抗值,通常用复数形式表示,即Z=R+jX,其中R表示电阻,X表示电抗。网络分析仪通过发射已知频率的信号并测量反射信号和透射信号来确定阻抗。

 

二、网络分析仪测量阻抗的方法

反射法:

反射法测量被测件的反射系数(Γx),反射系数与被测阻抗(Zx)和测量电路的特征阻抗(Zo,通常为50Ω)之间的关系为:Γx=(Zx-Zo)/(Zx+Zo)。

根据测得的反射系数,可以计算出被测阻抗。反射法的阻抗测量范围通常为2Ω至1.5kΩ(取决于所需的精度和测量频率)。

反射法适用于测量负载阻抗、天线阻抗等。

串联直通法:

串联直通法通过将被测件(DUT)连接成“串联传输”来测量阻抗。

这种方法在测量高阻抗值时最有效,10%的精度范围约为5Ω至20kΩ。

串联直通法的阻抗计算公式为:Z=(50×2)×((1-S21)/S21),其中S21是透射系数。

并联直通法:

并联直通法通过将DUT连接成“并联传输”来测量阻抗。

这种方法适用于测试低阻抗值,通常用于在毫欧范围内进行测量(如电源完整性应用)。

并联直通法的阻抗计算公式为:Z=(50/2)×(S21/(1-S21))。


三、网络分析仪测量阻抗的校准

为了提高测量精度,网络分析仪在进行阻抗测量前需要进行校准。常用的校准方法包括:

短路-开路-负载校准(SOLT):通过测量已知短路、开路和负载的阻抗来校准网络分析仪的测量结果。

通过-反射-线-短路(TRL)校准:一种更精确的阻抗校准方法,通过测量已知的通过线、反射线和短路的阻抗来校准网络分析仪。


四、网络分析仪测量阻抗的应用

网络分析仪测量阻抗在多个领域有广泛应用,包括: 

电路设计:帮助工程师分析电路的阻抗特性,优化电路设计,如匹配网络设计、滤波器设计等。

器件测试:用于测试各种器件的阻抗特性,如天线、射频开关、放大器、滤波器等。

生产测试:在生产测试中,对器件或电路进行质量控制,确保产品的性能符合要求。

故障诊断:帮助工程师诊断电路故障,如找出阻抗不匹配、短路、开路等问题。


五、注意事项

在进行阻抗测量时,应选择合适的测量方法,并根据实际需要设置参考阻抗。

校准是确保测量精度的关键步骤,应选择适当的校准方法和标准件进行校准。

注意控制环境因素,如温度、湿度等,以减少对测量结果的影响。